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台式X射线吸收谱（XAFS）是一种基于X射线吸收边缘附近精细结构分析的技术，用于解析材料中特定元素的局域原子或电子结构。在催化与能源材料领域，用于分析催化剂活性位点、电池电极材料的结构演化；在环境科学领域，用于检测污染物中重金属元素的配位形态；在核能与新材料领域，用于研究锕系元素或非晶态材料的局域结构。

一、报告内容

1. 台式X射线吸收谱原理及其应用案例。

2. X射线吸收谱拓展边精细结构分析方法及拟合案例。

二、报告人简介

顾钧文博士，毕业于英国UCL，美国量子科学仪器有限公司easyXAFS高级工程师，长期运用同步辐射光源从事材料，催化等领域研究，拥有丰富的同步辐射工作经历和X射线吸收谱结构表征经验。

三、时间：2025年5月15日（周四）13：30

四、地点：科学会堂B210

欢迎相关师生积极参加！

现代教育技术与实验中心

2025年5月12日