仪器型号：S-4800

生产厂家：日立公司

仪器简介：

扫描电子显微镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。在低加速电压（1kV）下的二次电子图像分辨率为2nm，这有利于观察绝缘或导电性差的样品。

主要技术参数：

1.二次电子分辨率:1.0nm(15 kV); 2.0 nm(1 kV)

2.背散射电子分辨率:3.0 nm(15 kV)

3.电子枪:冷场发射电子源

4.加速电压:0.5～30 kV（0.1 kV/步，可变）

5.放大倍率:×30 ～×800,000

6.X射线能谱仪的元素分析范围为Be4～U92

样品要求：

1.无毒、无放射性；

2.样品可以是块状就、片状、纤维状、颗粒或粉末，但不能是有机挥发物或含有水分；

3.理化性质稳定；

4.样品不能有磁性或预先进行去磁；

5.样品座为Φ30mm，块状样品不易过大，高度限制在10mm以下。

应用领域：

用于观察材料表面的微细形貌、断口及内部组织，并对材料表面微区成分进行定性和定量分析。